科特科學(xué)kett雙型薄膜測(cè)厚儀LZ-200J
科特科特雙型膜厚測(cè)試儀LZ-200J的特點(diǎn)
雙型膜厚儀 LZ-200J 既可以測(cè)量電磁式膜厚儀(測(cè)量施加在磁性金屬上的膜厚),也可以測(cè)量渦流式膜厚儀(測(cè)量磁性金屬上的絕緣膜厚)。
配備通過(guò)按鈕操作獲得平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值和最小值的統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能,消除因基板差異導(dǎo)致的誤差的校準(zhǔn)記憶功能,指定膜厚控制范圍的極限設(shè)置功能等和
測(cè)量結(jié)果可以用內(nèi)置打印機(jī)打印出來(lái)
內(nèi)置膜厚儀
日期、批號(hào)和測(cè)量結(jié)果可以當(dāng)場(chǎng)打印出來(lái)并作為文件提交。
膜厚控制所需的統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
您可以通過(guò)簡(jiǎn)單的操作獲得測(cè)量結(jié)果的平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值等。
校準(zhǔn)記憶功能
為了應(yīng)對(duì)基材的材質(zhì)、形狀、厚度的變化,可以預(yù)先登錄并調(diào)出4種電磁法和4種渦流法的基材的最佳校準(zhǔn)曲線.
限位設(shè)定功能
您可以設(shè)置要管理的膜厚的上限和下限。
如果測(cè)量的膜厚超出設(shè)定范圍,蜂鳴器會(huì)響起,顯示屏上會(huì)顯示警告標(biāo)記。
小探頭
鉛筆型單點(diǎn)接觸恒壓探頭,無(wú)論測(cè)量位置如何,都能提供穩(wěn)定的測(cè)量值。
耐磨探頭
測(cè)量探頭的尖端使用鈦涂層用于電磁法和工業(yè)紅寶石用于渦流法。
測(cè)量原理 電磁感應(yīng)式(LZ-200J Fe探頭)
當(dāng)交流電磁鐵靠近鐵(磁性金屬)時(shí),穿透線圈的磁通量會(huì)根據(jù)接近距離而變化,從而改變施加在線圈兩端的電壓。
電磁式薄膜測(cè)厚儀從電流值讀取這個(gè)電壓變化,并將其轉(zhuǎn)換為薄膜厚度,用于測(cè)量磁性金屬上的非磁性薄膜。
科特科學(xué)kett雙型薄膜測(cè)厚儀LZ-200J規(guī)格書
測(cè)量方法
| 電磁感應(yīng)式/渦流式并用 |
測(cè)量對(duì)象 | 磁性金屬上的非磁性涂層和非磁性金屬上的絕緣涂層 |
測(cè)量范圍 | 電磁型:0-1500μm 或 60.00mils 渦流型:0-800μm 或 32.00mils |
測(cè)量精度 | 電磁式:15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2% 渦電流式:50μm未満:±1μm、50μm以上:±2% |
分解能 | 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1.0μm |
適合規(guī)格 | 電磁誘導(dǎo)式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376 |
統(tǒng)計(jì)機(jī)能 | 測(cè)定回?cái)?shù)?平均値?標(biāo)準(zhǔn)偏差?最大値?最小値?ブロック番號(hào) |
プローブ | 一點(diǎn)接觸定圧式(LEP-J、LHP-J) |
表示方法 | デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm) |
外部出力 | RS-232Cインターフェース(転送速度2400bps) |
電源 | AC100V(50/60Hz)または 電池1.5V(単3アルカリ) 本體部×6、プリンタ部×4 |
寸法?質(zhì)量 | 120(W)×250(D)×55(H)mm、1.0kg |
付屬品 | 標(biāo)準(zhǔn)板、鉄素地、アルミ素地、標(biāo)準(zhǔn)板ケース、電池1.5V(単3アルカリ)、ACアダプタ、 プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース |
オプション | L字型プローブ(LEP-21L)、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」 |