NSK日商精密光學(xué) 光切斷測(cè)定機(jī) KY-30-TV三維非接觸測(cè)量使用狹縫光以.1μm單位無(wú)接觸測(cè)量深度高度的光切斷型測(cè)量顯微鏡。厚膜IC高度、用于粘接的密封劑的高度、引線框針尖的偏差高度位移、圓盤(pán)上緣面的倒角深度、etc.■也有應(yīng)用這一原理測(cè)量?jī)善Ａчg隙的機(jī)器?！鲇^察方法光學(xué)切割法（利用狹縫光學(xué)系統(tǒng)測(cè)量深度和高度）■物鏡固定放大倍率：10倍（也可提供5倍和20倍）■Z軸驅(qū)動(dòng)方式使用聚光燈的 AF
NSK日商精密光學(xué) 光切斷測(cè)定機(jī) KY-30-TV三維非接觸測(cè)量
使用狹縫光以.1μm單位無(wú)接觸測(cè)量深度高度的光切斷型測(cè)量顯微鏡。
厚膜IC高度、用于粘接的密封劑的高度、引線框針尖的偏差高度位移、圓盤(pán)上緣面的倒角深度、etc.
■也有應(yīng)用這一原理測(cè)量?jī)善Ａчg隙的機(jī)器。
| ■ | 觀察方法 |
| 光學(xué)切割法（利用狹縫光學(xué)系統(tǒng)測(cè)量深度和高度） | |
| ■ | 物鏡 |
| 固定放大倍率：10倍（也可提供5倍和20倍） | |
| ■ | Z軸驅(qū)動(dòng)方式 |
| 使用聚光燈的 AF 連續(xù)跟蹤方法（可離線手動(dòng)測(cè)量） | |
| ■ | 投影狹縫 |
| 10μm半反射鏡型 | |
| ■ | Z軸測(cè)量 |
| Z軸數(shù)字線性規(guī)0.1μm讀數(shù) | |
| ■ | 重復(fù)性 |
| ±1μm以內(nèi) | |
| ■ | 使用的光源 |
| 半導(dǎo)體激光器（2級(jí)）、鹵素光源 |