玉崎 NSK日商精密光學(xué) 微米深度高度測(cè)量機(jī)KY-90-HL-TV玉崎 NSK日商精密光學(xué) 微米深度高度測(cè)量機(jī)KY-90-TV玉崎 NSK日商精密光學(xué) KY-90-P深高測(cè)定儀 1μｍ玉崎 NSK日商精密光學(xué) KY-120-P型深高測(cè)定儀 1μｍ使用狹縫光以.1μm單位無接觸測(cè)量深度高度的光切斷型測(cè)量顯微鏡。厚膜IC高度、用于粘接的密封劑的高度、引線框針尖的偏差高度位移、圓盤上緣面的倒角深度、et
玉崎 NSK日商精密光學(xué) 微米深度高度測(cè)量機(jī)KY-90-HL-TV
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玉崎 NSK日商精密光學(xué) KY-90-P深高測(cè)定儀 1μｍ
玉崎 NSK日商精密光學(xué) KY-120-P型深高測(cè)定儀 1μｍ
使用狹縫光以.1μm單位無接觸測(cè)量深度高度的光切斷型測(cè)量顯微鏡。
厚膜IC高度、用于粘接的密封劑的高度、引線框針尖的偏差高度位移、圓盤上緣面的倒角深度、etc.
■也有應(yīng)用這一原理測(cè)量?jī)善Ａчg隙的機(jī)器。
| ■ | 觀察方法 |
| 光學(xué)切割法（利用狹縫光學(xué)系統(tǒng)測(cè)量深度和高度） | |
| ■ | 物鏡 |
| 固定放大倍率：10倍（也可提供5倍和20倍） | |
| ■ | Z軸驅(qū)動(dòng)方式 |
| 使用聚光燈的 AF 連續(xù)跟蹤方法（可離線手動(dòng)測(cè)量） | |
| ■ | 投影狹縫 |
| 10μm半反射鏡型 | |
| ■ | Z軸測(cè)量 |
| Z軸數(shù)字線性規(guī)0.1μm讀數(shù) | |
| ■ | 重復(fù)性 |
| ±1μm以內(nèi) | |
| ■ | 使用的光源 |
| 半導(dǎo)體激光器（2級(jí)）、鹵素光源 |