kett凱特膜厚計(jì) 探頭 HP-100
產(chǎn)品概要新開發(fā)的膜厚計(jì)用探頭L-500渦流探頭(用于非磁性金屬基材)存儲(chǔ)多達(dá) 50 個(gè)應(yīng)用程序記憶主要規(guī)格測(cè)量方法渦流測(cè)量對(duì)象非磁性金屬上的絕緣涂層測(cè)量范圍0 至 1,200μm 或 47.0mils測(cè)量精度小于 50 μm ±1.0 μm50 μm 以上 ±2%適用機(jī)型薄膜測(cè)厚儀 L-500
- 型號(hào):
產(chǎn)品概要新開發(fā)的膜厚計(jì)用探頭L-500渦流探頭(用于非磁性金屬基材)存儲(chǔ)多達(dá) 50 個(gè)應(yīng)用程序記憶主要規(guī)格測(cè)量方法渦流測(cè)量對(duì)象非磁性金屬上的絕緣涂層測(cè)量范圍0 至 1,200μm 或 47.0mils測(cè)量精度小于 50 μm ±1.0 μm50 μm 以上 ±2%適用機(jī)型薄膜測(cè)厚儀 L-500
新開發(fā)的膜厚計(jì)用探頭L-500
渦流探頭(用于非磁性金屬基材)
存儲(chǔ)多達(dá) 50 個(gè)應(yīng)用程序記憶
主要規(guī)格
測(cè)量方法 渦流 測(cè)量對(duì)象 非磁性金屬上的絕緣涂層 測(cè)量范圍 0 至 1,200μm 或 47.0mils 測(cè)量精度 小于 50 μm ±1.0 μm
50 μm 以上 ±2%適用機(jī)型 薄膜測(cè)厚儀 L-500