kett膜厚計(jì) 探針 EP-100

產(chǎn)品概要新開發(fā)的膜厚計(jì)用探頭L-500電磁探頭（用于磁性金屬底座）存儲(chǔ)多達(dá) 50 個(gè)應(yīng)用程序記憶主要規(guī)格測(cè)量方法電磁感應(yīng)測(cè)量對(duì)象磁性金屬上的非磁性涂層測(cè)量范圍0 至 2,500μm 或 99.0mils測(cè)量精度小于 15 μm ±0.3 μm15 μm 以上且小于 1,000 μm ±2%1,000 μm 以上 ±3%適用機(jī)型薄膜測(cè)厚儀 L-500

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