可以對AOI或ICT無法保證安裝質(zhì)量的BGA/CSP的故障點進行檢查和診斷。無需夾具即可從原型階段輕松檢查，檢測LSI的引腳/網(wǎng)絡(luò)級的缺陷點。不支持BST的外圍設(shè)備也可以通過BST設(shè)備進行測試。邊界掃描測試儀，可在引腳級識別 BGA/CSP 板上的缺陷位置概念無需夾具即可從原型階段輕松檢查可以對處理器進行 JTAG 在線仿真，從而實現(xiàn)從開發(fā)到制造的無縫使用。功能●能夠在測試前提前計算測試覆蓋率（D
可以對AOI或ICT無法保證安裝質(zhì)量的BGA/CSP的故障點進行檢查和診斷。無需夾具即可從原型階段輕松檢查，檢測LSI的引腳/網(wǎng)絡(luò)級的缺陷點。不支持BST的外圍設(shè)備也可以通過BST設(shè)備進行測試。
概念
無需夾具即可從原型階段輕松檢查
可以對處理器進行 JTAG 在線仿真，從而實現(xiàn)從開發(fā)到制造的無縫使用。
●能夠在測試前提前計算測試覆蓋率（DFT）
●不僅可以指定缺陷的位置，還可以指定缺陷的內(nèi)容（ADO）
●可用于 FPGA、CPLD 和閃存的在系統(tǒng)編程
●即使不支持 BST 的 BST 外圍設(shè)備也可以通過 BST 設(shè)備進行測試。