SL-200E 電磁模擬式膜厚儀
SL-200E電磁模擬式膜厚儀高性能小型2極型:可以測量小地方和內(nèi)部(定制)特殊長度該探頭體積小,適用于測量局部涂層的厚度,如平面和彎曲到圓棒、零件、復雜形狀和內(nèi)部。規(guī)格測量范圍I:0 至 50 μm II:0 至 500 μm測量精度均勻表面上的 ± 1 μm 或指示值的 ± 2%電源DC:AA 電池 (1.5V) x 8AC:100V,50 / 60Hz(使用 AC 適配器)工作溫度0-40℃
- 型號: SL-200E
SL-200E電磁模擬式膜厚儀高性能小型2極型:可以測量小地方和內(nèi)部(定制)特殊長度該探頭體積小,適用于測量局部涂層的厚度,如平面和彎曲到圓棒、零件、復雜形狀和內(nèi)部。規(guī)格測量范圍I:0 至 50 μm II:0 至 500 μm測量精度均勻表面上的 ± 1 μm 或指示值的 ± 2%電源DC:AA 電池 (1.5V) x 8AC:100V,50 / 60Hz(使用 AC 適配器)工作溫度0-40℃
該探頭體積小,適用于測量局部涂層的厚度,如平面和彎曲到圓棒、零件、復雜形狀和內(nèi)部。
高性能小型2極型:可以測量小地方和內(nèi)部(定制)