零件號檢查方法定量測量測量范圍（納米）可測量/可觀察范圍(mm)標(biāo)本放置空間高度（mm）用法特征LSM-9100WNIR近紅外三波長線偏振法○100 至 5,000（參考）φ1000 到 160?著色樹脂制品的應(yīng)變分布評價?樹脂薄膜的拉伸不均檢查?任何人都可以通過單擊輕松測量。?可以在幾分鐘內(nèi)評估尺寸為 Φ100mm 的表面分布。?可以保存評估數(shù)據(jù)和變形觀察圖像數(shù)據(jù)。?可以評估著色樹脂產(chǎn)品的殘余應(yīng)
| 零件號 | 檢查方法 | 定量 測量 | 測量范圍 （納米） | 可測量/可觀察 范圍 (mm) | 標(biāo)本放置 空間 高度（mm） | 用法 | 特征 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| LSM-9100WNIR | 近紅外三波長線偏振法 | ○ | 100 至 5,000（參考） | φ100 | 0 到 160 | ?著色樹脂制品的應(yīng)變分布評價 ?樹脂薄膜的拉伸不均檢查 | ?任何人都可以通過單擊輕松測量。 ?可以在幾分鐘內(nèi)評估尺寸為 Φ100mm 的表面分布。 ?可以保存評估數(shù)據(jù)和變形觀察圖像數(shù)據(jù)。 ?可以評估著色樹脂產(chǎn)品的殘余應(yīng)力。 | |||
| LSM-9001LE | 旋轉(zhuǎn)分析儀法 | ○ | 0 到 130 | 200×200 | 0 到 160 | ?玻璃制品的變形檢查? 塑料制品的變形檢查? 晶體材料的應(yīng)力檢查 ?光學(xué)薄膜的相位差測量 | ?任何人都可以通過單擊輕松測量 ?二維測量型應(yīng)變測試儀 ?可保存測量數(shù)據(jù)和應(yīng)變觀察圖像數(shù)據(jù) ?延遲測量范圍：0 至 130 nm | |||
| LSM-9001S | 旋轉(zhuǎn)分析儀法 | ○ | 0 到 130 | 最大：60×60 最?。?0×10 | 0 到 115 | ?玻璃制品的變形檢查? 塑料制品的變形檢查? 晶體材料的應(yīng)力檢查 ?光學(xué)薄膜的相位差測量 | ?任何人都可以通過單擊輕松測量。 ?二維測量型畸變測試儀。 ?可以保存測量數(shù)據(jù)和畸變觀察圖像數(shù)據(jù)。 ?延遲測量范圍：0 至 130 nm 。?安裝了 6 倍光學(xué)變焦鏡頭。 | |||
| LSM-9100W | RGB線偏振法 | ○ | 0 到 3,000 | φ150 | 0 到 160 | ?玻璃制品的變形檢查? 塑料制品的變形檢查? 晶體材料的應(yīng)力檢查 ?光學(xué)薄膜的相位差測量 | ?任何人都可以通過單擊輕松測量。 ?二維測量應(yīng)變測試儀。 ?可以保存測量數(shù)據(jù)和應(yīng)變觀察圖像數(shù)據(jù)。 ?延遲測量范圍：0 至 3,000 nm ?？蓽y量 | |||
| LSM-9100WS | RGB線偏振法 | ○ | 0 到 3,000 | 最大：60×60 最?。?0×10 | 0 到 115 | ?玻璃制品的變形檢查? 塑料制品的變形檢查? 晶體材料的應(yīng)力檢查 ?光學(xué)薄膜的相位差測量 | ?任何人都可以通過單擊輕松測量 ?二維測量型應(yīng)變測試儀 ?可保存測量數(shù)據(jù)和應(yīng)變觀察圖像數(shù)據(jù) ?延遲測量范圍：0 至 3000 nm ?測量塑料等較大應(yīng)變配備 6 倍光學(xué)變焦 鏡片 | |||