STEM 的 CL/PL 測(cè)量系統(tǒng) 為Monch STEM（掃描透射電子顯微鏡）
添加了 CL 和 PL 測(cè)量功能。近紅外光檢測(cè)也是可能的！

產(chǎn)品概要

該產(chǎn)品是在掃描透射電子顯微鏡（STEM）的基礎(chǔ)上增加了擴(kuò)展光聚焦和光照射功能的系統(tǒng)。在聚光模式下，電子束成為照射源，實(shí)現(xiàn)CL測(cè)量。在光照射模式下，激光激發(fā)后獲取電子圖像。還可以同時(shí)進(jìn)行光照射和光收集，從而進(jìn)行PL測(cè)量。
僧侶山（Monch/M?nch）是瑞士的一座山，屬于阿爾卑斯山。在德語(yǔ)中是“僧侶”的意思。Attolight 在其產(chǎn)品名稱中使用山脈名稱。

特征

• 通過(guò)優(yōu)化反射鏡的曲率半徑和位置實(shí)現(xiàn)超高靈敏度

• 使用 InGaAs 相機(jī)進(jìn)行近紅外波長(zhǎng)檢測(cè)

• 檢測(cè)波長(zhǎng)：200 nm～1.7 um

目的

• GaN、InP 和 SiC 的評(píng)估

• 太陽(yáng)能電池（GaAs、CdTe、鈣鈦礦等）

• 引領(lǐng)

• 2D材料（石墨烯、BN、WS2、金剛石等）

系統(tǒng)配置

測(cè)量數(shù)據(jù)示例

(a) h-BN/WS2/h-BN 異質(zhì)結(jié)構(gòu)顯示出三種發(fā)射線：激子 (XA)、三重子 (X-) 和局域發(fā)射極 (L)。(b) c 和 d 中突出顯示的區(qū)域的 CL
光譜
。 ) 在 d 中測(cè)量的 HAADF 區(qū)域和 (d) 顯示局部 trion 增強(qiáng)的 X 強(qiáng)度圖。
（Bonnet 等人，avarXiv：2102.06140 (2021)）。

GaN/AlN NW 的光譜圖像（20 個(gè) QDisk）

(a) GaN/AlN 納米線的 HAADF 圖像，比例尺為 20 nm。
(b) 與 CL 同時(shí)采集的納米線的 HAADF。
(c) 最強(qiáng)烈峰的波長(zhǎng)位置。
(d) 最強(qiáng)烈峰的強(qiáng)度頂峰。