SANKO三高 針孔檢測儀 TO-5DP，京都玉崎優(yōu)勢供應

簡單介紹： TO-5DP直流和薄膜用于檢查薄膜TO-5DP直流和薄膜用于檢查薄膜TO-5DP直流和薄膜用于檢查薄膜TO-5DP直流和薄膜用于檢查薄膜它是一種低功率直流高壓探測器，用于檢測數百微以下相對薄的薄膜（如氟樹脂）的針孔。它可用于檢測電子設備和精密儀器等薄絕緣涂層的針孔和缺陷。

產品簡介

TO－5DP，SANKO山高，探知器

產品詳細信息

TO-５DP 檢測薄膜用

可以探測如氟樹脂等數百μm以下的比較薄的皮膜用，微孔探測器使用的電流較低的直流電壓。用于電子機器、精密機器等薄的絕緣性薄膜的的微孔探測、缺陷檢測。

規(guī) 格

方 式 直流高電壓放電式

探測電壓 0.3～5kV

警報方式 亮燈、蜂鳴器

探 頭 ABS制的伸縮探頭（把手φ32、頭部φ25、長度：*短 約540mm～*長870mm)

附帶電極刷固定夾子、電線（高壓用5m）

電 源 AC85V～264V、50/60Hz、10VA

使用溫度 0～40°C（不結露）

尺寸重量 320（W）×230（H）×70（D）mm、約3.2kg

附 屬 品 探頭收納袋子、 電源線2m、接地線5m、接地用線5m、

遙控開關線5m、平行電極刷子（30×300mm、黃銅制）

SWT-7000ⅢF膜厚計
SWT-7200III膜厚計
SWT-7100III膜厚計
SWT-7000III膜厚計
AQ-10木材水分計
UDM-550V膜厚計
SNA-3000表面鹽分計
Model 232粒度計
Model 318膜厚計
ADO-30拉伸附著力測試儀
518型膜厚計
455型膜厚計
ULT-5000膜厚計
EL-1C-EX膜厚計
UNIBOY-E膜厚計
SWT-9000N膜厚計
CTR-1500E膜厚計

SL-5P連接線
SM-Pen連接線
SL-200E用連接線
Pro-2/SL-120C連接線
CTR-1500E連接線
CTR-2000 III連接線
NFe-8連接線
NFe-0.6連接線
SWT用 NFe-2.0（渦電流）連接線
SP-1100D用支架
Fe-2.5L(NFe-2.0L)連接線
SWT用 Fe-2.5連接線
SM-Pen膜厚計