日本SANKO山高電磁式膜厚儀 SL-200E

測(cè)量范圍 0~500 μm

特征

模擬膜厚儀

非常適合測(cè)量小零件，高性能小型2極型：可以測(cè)量小地方和內(nèi)部（定制）

該探頭體積小，適用于測(cè)量局部涂層的厚度，如平面和彎曲到圓棒、零件、復(fù)雜形狀和內(nèi)部。

規(guī)格

測(cè)量范圍：0 至 500 μm

探頭：磁極/2極型，磁極直徑/φ2.5，尺寸/10（W）×17（H）×21（D）mm

尺寸：190 (W) x 90 (H) x 120 (D) 毫米

重量：1.8公斤

附件：標(biāo)準(zhǔn)板、AC適配器、肩包