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Kett Science科特電磁測厚儀LE-200J

切型干膜測厚儀455型(油漆檢驗規(guī))可出具校準(zhǔn)文件:付費推薦切割式干膜測厚儀455型!使用手動切割器在涂膜上露出帶凹槽的橫截面并測量涂層厚度。一種涂膜觀察儀器,它集成了用于切割涂膜的刀片和 50 倍顯微鏡(100 等分刻度)。通過將涂膜切割成 V 形,可以輕松檢查涂膜的特性、厚度等。符合 ISO 2808、ASTM D4138、DIN 50 986科特科學(xué)kett電磁薄膜測厚儀LE-200J的特點

切型干膜測厚儀455型(油漆檢驗規(guī))

切型干膜測厚儀455型(油漆檢驗規(guī))


可出具校準(zhǔn)文件:付費

推薦切割式干膜測厚儀455型!使用手動切割器在涂膜上露出帶凹槽的橫截面并測量涂層厚度。
一種涂膜觀察儀器,它集成了用于切割涂膜的刀片和 50 倍顯微鏡(100 等分刻度)。
通過將涂膜切割成 V 形,可以輕松檢查涂膜的特性、厚度等。
符合 ISO 2808、ASTM D4138、DIN 50 986

科特科學(xué)kett電磁薄膜測厚儀LE-200J的特點

電磁式薄膜測厚儀LE-200J是一種電磁式薄膜測厚儀,用于測量應(yīng)用于磁性金屬的薄膜厚度。

配備通過按鈕操作獲得平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值和最小值的統(tǒng)計計算功能,消除因基板差異導(dǎo)致的誤差的校準(zhǔn)記憶功能,指定膜厚控制范圍的極限設(shè)置功能等和

測量結(jié)果可以使用內(nèi)置打印機打印出來。

  • 內(nèi)置膜厚儀

  • 日期、批號和測量結(jié)果可以當(dāng)場打印出來并作為文件提交。

  • 膜厚控制所需的統(tǒng)計計算功能

  • 您可以通過簡單的操作獲得測量結(jié)果的平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值等。

  • 校準(zhǔn)記憶功能

  • 為了應(yīng)對基材的材質(zhì)、形狀、厚度的變化,通過預(yù)先登錄四種電磁方式,可以登錄并調(diào)出基材的最佳校準(zhǔn)曲線。

  • 限位設(shè)定功能

  • 您可以設(shè)置要管理的膜厚的上限和下限。

    如果測量的膜厚超出設(shè)定范圍,蜂鳴器會響起,顯示屏上會顯示警告標(biāo)記。

  • 小探頭

  • 鉛筆型單點接觸恒壓探頭,無論測量位置如何,都能提供穩(wěn)定的測量值。

  • 耐磨探頭

  • 鈦涂層用于測量探頭尖端的電磁方法。

  • 測量原理 電磁感應(yīng)式(LE-200J的Fe探頭)

  • 當(dāng)交流電磁鐵靠近鐵(磁性金屬)時,通過線圈的磁通數(shù)量會根據(jù)接近距離而變化,從而改變施加在線圈兩端的電壓。

    電磁膜厚儀從當(dāng)前值讀取電壓變化并將其轉(zhuǎn)換為膜厚。

    科特科學(xué)kett電磁薄膜測厚儀LE-200J規(guī)格書

    測量方法
    圖片關(guān)鍵詞
    電磁感應(yīng)
    測量對象磁性金屬上的非磁性涂層
    測量范圍0-1500μm 或 60.00mils
    測量精度小于 15 μm:±0.3 μm,15 μm 以上:±2%
    解析度100μm以下:0.1μm,100μm以上:1.0μm
    符合標(biāo)準(zhǔn)JIS K5600-1-7, JIS H8501, JIS H0401 / ISO 2808, ISO 2064, ISO 1460, ISO 2178, ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499, ASTM D 7091-5, ASTM E 376
    統(tǒng)計功能測量次數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、塊數(shù)
    探測一點接觸恒壓型(LEP-J)
    顯示方式數(shù)字(LCD,最小顯示位數(shù)0.1μm)
    外部輸出RS-232C接口(傳輸速度2400bps)
    電源AC100V(50/60Hz)或
    電池1.5V(AA堿性)主機x 6,打印機x 4
    尺寸/質(zhì)量120(W)×250(D)×55(H)mm, 1.0kg
    配件標(biāo)準(zhǔn)板、鐵底座、標(biāo)準(zhǔn)板盒、1.5V 電池(AA 堿性)、AC 適配器、探頭適配器、打印紙、便攜包
    選項L型探頭(LEP-21L)、RS-232C連接電纜、數(shù)據(jù)管理軟件“Data Logger KLD-01”、“McWAVE Lite”、“McWAVE Standard”、“McWAVE Professional”、“MultiProp”

    (McWAVE Lite、McWAVE Standard、McWAVE Professional 和 MultiProp 是 CEC 的商標(biāo)。)


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