雙型膜厚儀 MJ-TG2C 分離型（帶細探頭） SATTEC
雙型膜厚儀 MJ-TG2C 分離型（帶細探頭） SATTECMJ-TG2C是電磁式薄膜測厚儀和渦流式薄膜測厚儀的兩用型號。自動區(qū)分黑色金屬和有色金屬。薄探頭如此受歡迎的原因。R面比較強的膜厚計?！鲞m用于黑色金屬和有色金屬?？蓽y量磁性/非磁性金屬基材鐵、鋼（磁性金屬）、鋁等薄膜的雙型膜厚儀。
雙型膜厚儀 MJ-TG2C 分離型（帶細探頭） SATTEC
MJ-TG2C是電磁式薄膜測厚儀和渦流式薄膜測厚儀的兩用型號。自動區(qū)分黑色金屬和有色金屬。薄探頭如此受歡迎的原因。R面比較強的膜厚計。■適用于黑色金屬和有色金屬。可測量磁性/非磁性金屬基材鐵、鋼（磁性金屬）、鋁等薄膜的雙型膜厚儀。