凱特科學(xué)研究所Kett Science凱特薄膜測(cè)厚儀L-500可出具校準(zhǔn)文件：付費(fèi) 帶有內(nèi)置打印機(jī)的頂級(jí)薄膜厚度計(jì)。從測(cè)量到統(tǒng)計(jì)和打印的所有程序都可以用一個(gè)單元完成。內(nèi)置塊/組統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能?？梢赃B接電磁和渦流探頭（單獨(dú)出售）。可以測(cè)量磁性材料和非磁性金屬的涂層厚度。支持交流供電和電池驅(qū)動(dòng)。[兼容探頭（另售）]?電磁探頭（用于磁性金屬底座）：EP-100?渦流探頭（用于非磁性金屬底座）：HP-100
凱特科學(xué)研究所
帶有內(nèi)置打印機(jī)的頂級(jí)薄膜厚度計(jì)。
從測(cè)量到統(tǒng)計(jì)和打印的所有程序都可以用一個(gè)單元完成。
內(nèi)置塊/組統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能。
可以連接電磁和渦流探頭（單獨(dú)出售）。
可以測(cè)量磁性材料和非磁性金屬的涂層厚度。
支持交流供電和電池驅(qū)動(dòng)。
[兼容探頭（另售）]
?電磁探頭（用于磁性金屬底座）：EP-100
?渦流探頭（用于非磁性金屬底座）：HP-100
| 產(chǎn)品名稱 | |
|---|---|
 產(chǎn)品代碼KL-500 Kett Science凱特薄膜測(cè)厚儀L-500* 需要可選探頭。 | |
 產(chǎn)品代碼KL-500-EP100 Ketto 電磁探頭 EP-100（適用于 L-500）*用于磁性金屬基板。測(cè)量范圍：0-2,500μm | |
 產(chǎn)品代碼KL-500-HP100 Ketto 渦流探頭 HP-100（適用于 L-500）*用于非磁性金屬基材。測(cè)量范圍：0 至 1,200μm |
Kett Science Kett 薄膜測(cè)厚儀 L-500 目錄
Kett Scientific 涂層測(cè)厚儀目錄 (2.7MB)
涂層測(cè)厚儀L-500規(guī)格
| 測(cè)量方法 | 電磁感應(yīng)或渦流 |
|---|---|
| 測(cè)量對(duì)象 | 磁性金屬上的非磁性涂層或非磁性金屬上的絕緣涂層 |
| 測(cè)量范圍 | *因探頭而異 電磁類型 (EP-100)：0 至 2,500 μm 或 99.0 mils 渦流類型 (HP-100)：0 至 1,200 μm 或 47.0 mils |
| 測(cè)量精度 | *取決于探頭 電磁型 (EP-100)：小于 15 μm：±0.3 μm、15 μm 或更大 1,000 μm：±2%、1,000 μm 或更大：±3% 渦流型 (HP-100)： 50μm以下：±1.0μm、50μm以上：±2% |
| 解析度 | 100μm以下：0.1μm、100μm以上：1μm |
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | 電磁感應(yīng)型：JIS K5600-1-7, JIS H0401, JIS H8401, JIS H8501, / ISO 2808, ISO 2064, ISO 1460, ISO 2178, ISO 19840 / ASTM B 499, ASTM D 7091, ASTM E 376 渦流型: JIS K5600-1-7, JIS H8680-2, JIS H8501 / ISO 2808, ISO 2360, ISO 2064, ISO 19840 / ASTM B244, ASTM D7091, ASTM E376 |
| 統(tǒng)計(jì)功能 | 測(cè)量次數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、最大值、最小值、分塊、組 |
| 探測(cè) | 一點(diǎn)接觸恒壓型（EP-100、HP-100） |
| 顯示方式 | 數(shù)字式（LCD，最小顯示位數(shù)0.1μm） |
| 外部輸出 | USB串口 |
| 電源 | AC100-240V 或電池 1.5V（AA 堿性）x 8（主機(jī) x 4，打印機(jī) x 4） |
| 尺寸/質(zhì)量 | 126(W)×256(D)×93(H)mm, 750g |
| 配件 | 鐵基（EP-100用）、鋁基（HP-100用）、標(biāo)準(zhǔn)板（10μm、50μm、100μm、500μm、1000μm、1500μm、近似值、各1片）、電池1.5V （AA堿性）AC適配器、電源線、探頭適配器、背帶、打印紙、表面保護(hù)膜、標(biāo)準(zhǔn)板盒、便攜包、簡(jiǎn)易調(diào)整指南、使用說明書 |
| 選項(xiàng) | 標(biāo)準(zhǔn)板（配件以外的厚度）、膜厚測(cè)量臺(tái)LW-990、校準(zhǔn)（校準(zhǔn)證書、校準(zhǔn)證書、溯源體系圖） |
探頭 EP-100 規(guī)格
| 測(cè)量方法 | 電磁感應(yīng) |
|---|---|
| 測(cè)量對(duì)象 | 磁性金屬上的非磁性涂層 |
| 測(cè)量范圍 | 0 至 2,500μm 或 99.0mils |
| 測(cè)量精度 | 小于 15 μm ±0.3 μm 15 μm 以上且小于 1,000 μm ±2% 1,000 μm 以上 ±3% |
探頭 HP-100 規(guī)格
| 測(cè)量方法 | 渦流 |
|---|---|
| 測(cè)量對(duì)象 | 非磁性金屬上的絕緣涂層 |
| 測(cè)量范圍 | 0 至 1,200μm 或 47.0mils |
| 測(cè)量精度 | 小于 50 μm ±1.0 μm 50 μm 以上 ±2% |