奧林巴斯 X 射線熒光分析儀 VANTA Element VEL-PIN-A1-JPSET

一種便攜式分析儀，能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行高速、無損的元素分析。
Vanta系列的入門機(jī)型，專門分析鈦之后的合金和貴金屬，實(shí)現(xiàn)了輕量化和低價(jià)位。
它可以在幾秒到幾十秒內(nèi)測量金屬和合金樣品的元素成分，并可以從超過 600 種合金的庫中識(shí)別類型（等級）。
貴金屬（Pt、Au、Rh、Ir 等）可以以克拉和純度顯示。
除了穩(wěn)健的設(shè)計(jì)外，還可以進(jìn)行高精度的組件分析。
相當(dāng)于IP54的防塵防水性能。
通過 1.2m 美軍標(biāo)準(zhǔn)跌落測試。
適用于惡劣環(huán)境下的分析工作。

我們正在與制造商（奧林巴斯）合作，可以進(jìn)行本地演示。
由于這是詢價(jià)產(chǎn)品，請索取報(bào)價(jià)。

奧林巴斯X射線熒光光譜儀VANTA Element VEL-PIN-A1-JPSET的應(yīng)用

當(dāng)您想要識(shí)別對象中包含的成分或合金類型時(shí)使用它。
實(shí)驗(yàn)室檢查水平可以在現(xiàn)場達(dá)到，從而能夠?qū)w積太大、太笨重或運(yùn)輸?shù)綄?shí)驗(yàn)室成本太高的物體進(jìn)行現(xiàn)場分析。
信息可以現(xiàn)場實(shí)時(shí)獲取，有助于決策。
它還有助于提高檢查工作的效率和降低成本。

奧林巴斯X射線熒光光譜儀VANTA Element VEL-PIN-A1-JPSET測量原理

通過用X射線照射待測物體并讀取產(chǎn)生的熒光X射線，可以分析組成元素和含量。
由于熒光 X 射線對每種元素都有獨(dú)特的能量，因此可以分析構(gòu)成元素和含量。

奧林巴斯 X 射線熒光分析儀 VANTA Element VEL-PIN-A1-JPSET 的特點(diǎn)

堅(jiān)固耐用，可承受惡劣的使用環(huán)境

?通過了符合美國軍用標(biāo)準(zhǔn) (MIL-STD-810G) 的 1.2m 跌落測試
?配備 IP54 防塵防水性能，可用于惡劣環(huán)境

卓越的分析性能

?采用奧林巴斯獨(dú)創(chuàng)的創(chuàng)新新技術(shù)。低電子噪聲設(shè)計(jì)讓您獲得更準(zhǔn)確的測量結(jié)果。
?高 X 射線計(jì)數(shù)率可實(shí)現(xiàn)高分辨率，提高測量速度、LOD（檢測限）和再現(xiàn)性。
?再現(xiàn)性穩(wěn)定，從初學(xué)者到經(jīng)驗(yàn)豐富的操作者，每次都能得到同等的測量結(jié)果。

操作簡單

?直觀的用戶界面
?室內(nèi)外易于閱讀的觸摸面板彩色顯示屏
?即使戴著手套也可以操作的按鈕和按鈕操縱桿

輕松存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

?測量數(shù)據(jù)可通過 USB 或可選的無線 LAN/Bluetooth? 傳輸?shù)酵獠吭O(shè)備或云端
?保存到 microSD 卡

奧林巴斯 X 射線熒光分析儀 VANTA Element VEL-PIN-A1-JPSET 規(guī)格